在精密制造、微電子封裝、光學元件檢測及柔性材料測量等領(lǐng)域，傳統(tǒng)高度計因接觸力過大易導致被測件變形或損傷。三豐低測力高度計憑借其微牛級至毫牛級的超低接觸力，成為高精度、非破壞性三維尺寸測量的理想工具。然而，其輕柔特性也對操作規(guī)范提出更高要求。正確使用三豐低測力高度計，才能發(fā)揮其毫厘不差、觸之無痕的核心優(yōu)勢。
一、使用前準備
三豐低測力高度計對振動、溫濕度敏感。應將其置于恒溫（20±1℃）、防震、無氣流擾動的計量室內(nèi)，并提前通電預熱30分鐘以上，使機械與電子系統(tǒng)達到熱平衡。使用前必須用標準量塊或校準規(guī)進行零點與線性校準，確保示值誤差在允許范圍內(nèi)（通常±1μm以內(nèi)）。同時檢查測針是否清潔、無彎曲，測力是否符合設(shè)定值（可通過測力儀驗證）。
二、測針選擇與安裝
根據(jù)被測表面材質(zhì)、粗糙度和幾何特征，選用合適形狀與材質(zhì)的測針（如球形紅寶石針尖、碳纖維針桿）。安裝時務必緊固測針座，避免松動引入誤差。注意：測針越長，剛性越低，測力影響越大，應盡量選用最短可行長度。
三、測量操作規(guī)范
輕觸原則：手動操作時，緩慢下降測頭，依靠設(shè)備內(nèi)置的低測力機構(gòu)自動感知接觸點，切忌快速下壓；
穩(wěn)定支撐：被測工件需穩(wěn)固放置于潔凈平臺，避免因輕微外力導致位移；
多點重復：對關(guān)鍵尺寸建議重復測量3–5次，剔除異常值后取平均，提升結(jié)果可靠性。
四、數(shù)據(jù)讀取與記錄
現(xiàn)代三豐低測力高度計多配備數(shù)顯屏或連接PC軟件，可自動記錄Z軸高度、平面度、平行度等參數(shù)。測量完成后及時保存原始數(shù)據(jù)，標注環(huán)境條件與操作人員，滿足ISO/IEC17025等質(zhì)量體系追溯要求。
五、日常維護
每次使用后清潔測針與工作臺，罩上防塵罩；定期檢查導軌潤滑狀態(tài)，避免干摩擦；長期不用時，應卸下測針單獨存放，防止意外碰撞。
更新時間：2025-12-15
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三坐標測量儀